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    高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板
    高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板

    高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板,F2923 為二維 CMOS X 射線平板探測器,具有高分辨率、 低噪聲、大面陣、高幀率和寬動態范圍等特點。綜合應用派登斯的 CMOS 圖像傳感器設計技術及 ADC 集成一體化方案,產品結構緊湊,技術性能優良?;谄淇煽啃愿?、 易于集成等特點,可有效降低在苛刻環境中、重負荷應用下 對成像系統的校準和維護要求。

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    便攜式探傷儀
    便攜式探傷儀

    OmniScan SX便攜式探傷儀存儲裝置SDHC卡,或大多數標準USB存儲設備*數字化頻率100 MHz100 MHz *為了獲得好結果,建議使用Lexar®存儲卡。

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    便攜式探傷儀
    便攜式探傷儀

    便攜式探傷儀IP評級根據IEC 60529-2004標準(外殼防護等級–IP規范),儀器設計符合侵入保護評級標準:IP67(防塵且可短時浸入水中)和IP65 (防塵且可經受水噴)。

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    相控陣探傷儀
    相控陣探傷儀

    OmniScan MX2相控陣探傷儀電池數量1節或2節電池(電池艙內可容納兩個熱插拔電池)。

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    相控陣探傷儀
    相控陣探傷儀

    相控陣探傷儀UT通道:8個低通、6個帶通和4個高通濾波器(當配置為TOFD時,為3個低通濾波器)

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    便攜式渦流探傷儀
    便攜式渦流探傷儀

    NORTEC 600便攜式渦流探傷儀濾波FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻(截止頻率可調)、中值濾波器(在2點~200點之間變化)、平均濾波器(在2點~200點之間變化 )

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